LLH-MI-3P 三維云紋干涉儀

三維云紋干涉儀是由云紋干涉光路和泰曼/格林干涉光路組合而成；將高靈敏度正交型光柵復制在試件的表面，并置于光路系統中，經調試后可分別獲得兩個面內位移場（U和V）和離面位移場（W）；激光是由單模光纖及耦合器分解和傳輸到光路系統中的；光路中置有PZT壓電晶體，通過驅動電源控制和驅動壓電晶體和反射鏡來實現相移技術，相移技術可以使測量靈敏度提高一個量級，儀器還附有加載系統及調節座；配以高溫爐可進行熱變形測量。

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產品詳情

主要技術指標：

1、位移靈敏度：面內u & v 場： 417nm (1200 線/mm)，離面 w場： 266nm

2、相移靈敏度: ∽20nm/V

3、光場尺寸： 35×35mm

4、測試范圍： ≤20×20mm

6、測量應變范圍：10~4000微應變

7、激光器：單縱膜，20 mw， λ=532nm

8、圖像采集： CMOS攝像頭，分辨率 1280 x 1024，USB接口

9、加載系統：拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式

主要配置：

1、主機

2、 20mW半導體激光器：1個

3、 USB攝像頭(內置)：1只

4、相移器：1個

5、光纖：3根

6、光纖耦合器：1套

7、 1200mm×800mm自動平衡隔振平臺：1套

8、品牌液晶臺式電腦：1套

9、拉伸、壓縮、彎曲三種加載方式：1套

10、軟件：1套

應用范圍：

云紋干涉法是一種非接觸測量面內位移和應變場的方法，具有較為廣泛的應用范圍。

該技術可用于測量復合材料的殘余應力;測量微電子封裝組件熱疲勞，熱濕耦合，熱載荷引起的變形;可用于非接觸測量航空材料在高溫狀態下的力學性能;還可以應用于材料構件內部的缺陷，裂紋的無損檢測。應用范圍非常廣泛。

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