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為力學實驗室儀器而生
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為力學實驗室儀器而生
任何一個用于形成光路，組成光學或者跟光學有關的儀器，器件，都是光學元件。光學元件種類太雜太多，在這里就主要挑選常見的光學元件進行分析介紹?！ ∑酵雇哥R：單個透鏡的焦距是主點到焦點的距離。透鏡的設計波長為546.1 nm(綠色汞譜線的e線)。由于焦距隨波長變化，所以被用于其它波長時，其焦距也隨之變化?！ ∑桨纪哥R：具有負的焦距，被用于發散一束平行光?？梢蕴峁]鍍膜和鍍了可見光帶域的防反射多層膜透鏡。單個透鏡...
干涉儀是利用光學干涉原理測量光程之差從而測定有關物理量的精密光學儀器。一般來說,只要是利用光干涉的原理來量測的儀器便可以稱為干涉儀。一般來說，最初入射光先經過某種分束器(部分透射反射鏡)分成單獨的兩束光，可能有的光束會經過外界環境的影響(例如，長度變化或者經過折射率變化的透明介質)，然后在另一個分束器處光束再次符合。得到的光束功率的空間分布就可以用于測量?！ 」鈱W干涉儀的應用極為廣泛，主要有如下幾方...
玻璃是透明材料，而且是一種均質體，它具有各向同性的性質，當單色光通過玻璃時，光速與其傳播方向和光波的偏振面無關，不會發生雙折射現象。但是，由于外部的機械作用或者玻璃容器成型后從軟化點以上的不均勻冷卻，使玻璃容器具有殘余應力時，各向同性的玻璃在光學上就成為各向異性體?！ 葢ο抵肝锛捎谕庖?受力或濕度、溫度變化等)而變形時，在物件內各部分之間會產生相互作用的內力，以抵抗這種外因的作用，當外部載...
激光干涉儀具有測量精度高、測量范圍大、測量速度快、最高測速下分辨率高等優點，結合不同的光學鏡組，可實現線性測長、角度、直線度、垂直度、平行度、平面度等幾何參量的高精度測量。在SJ6000激光干涉儀動態測量軟件配合下，可實現線性位移、角度和直線度的動態測量與性能檢測，以及進行位移、速度、加速度、振幅與頻率的動態分析，如振動分析、絲桿導軌的動態特性分析、驅動系統的響應特性分析等?！ 〖す飧缮鎯x最典型的...
造成激光干涉儀測量誤差的因素有哪些?激光干涉儀是精度較高的線性位移測量儀器，其光波可以直接對米進行定義，可溯源至國家標準。但是我們在使用中往往會出現檢測偏離值，偏離我們的預估，以至于在高精度檢測時，對設備產生懷疑?！ ?、阿貝誤差 因測量光學鏡組的安裝高度不在被測設備的運動軸上引起的測量誤差稱之為阿貝誤差。產生的原因是設備移動時存在俯仰、扭擺差，因此光學鏡組與運動軸偏置距離越遠，引起的阿貝誤差...
激光散斑測量使用的一種方法是散斑干涉法，能夠測量的位移分為面內位移和離面位移，其中面內位移即在平面內發生的位移，離面位移即垂直于平面的位移?！ ∫?、散斑的形成 使用被擴束后的平行光照射物塊表面，在空間出現隨機分布的亮斑和暗斑，稱為散斑。散斑隨銅塊的變形或運動而變化。在距離物體為Z的位置散斑的縱向和橫向尺寸分別為a和b，其中尺寸大小與激光波長、照明面積D和距離Z有關。在距離物體為Z處散斑縱向和橫...
干涉儀是根據光的干涉原理制成的一種儀器。將來自一個光源的兩個光束完全分并，各自經過不同的光程，然后再經過合并，可顯出干涉條紋。一束平行單波長光，經分光鏡P1分成兩束光。一束被反射，另一束則穿透分光鏡(，然后此兩束光各經過一個反射鏡M1和M2，其中照物光會穿越測試區的模型流場。然后兩束光于分光鏡P2處會合，再由透鏡聚合于一個銀幕上。如此將可于銀幕上記載有明暗相間隔的干涉條紋，這乃是測試區內流場密度已被...
光彈性法是一種光學應力測量方法。它利用具有雙折射性能的透明材料制作成與實際工程結構、部件或零件幾何形狀相似的模型，并在模型上施加與實際部件相似的載荷，根據光彈性條紋即可計算模型邊界和內部各點的應力，再由相似理論換算成原件上的應力，其精度能滿足工程設計的要求?！ 」鈴椥苑梢詼y量幾何形狀與載荷條件較為復雜的構件應力，特別是可測量其它方法難以解決的應力集中及內部應力問題?！ ED數碼光彈儀是以光...
